バーンインとは

「加速試験」とは、半導体の初期不良を検出し除去する取り組みの一部です。この試験では、温度や電圧を適用し、半導体を実際に動作させてます。この過程を通じて、早期の問題点を発見し、修正することが可能になります。

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