“ICの回路欠陥を検出するためのテストパターンを自動生成するテクノロジー、一般的にはATPGと呼ばれています。これは、システムのアルゴリズムを用いて特定の欠陥を予想し、その場合のテストパターンを作り上げる方法と、あらかじめ特定の欠陥を想定しないでランダムなテストパターンを生成する2つの手法が存在します。最近では、ICの設計工程中に、論理合成に並行してテストパターンが自動生成できるようになり、そのユーザビリティと効率性が格段に向上しています。特に、システムLSI（SoC）のような大規模IC設計においては、こうしたATPGの活用が必須となっています。”
