ICのトラブルシューティングに用いられるメソッドの一つに、故障モデルを基に生み出されたテストパターンを活用した故障検出が挙げられます。この手法は、時間をかけずに高い検出精度を実現します。具体的な手法としては、スキャンテストとBIST（内蔵自己テスト）が一般的です。
ICのトラブルシューティングに用いられるメソッドの一つに、故障モデルを基に生み出されたテストパターンを活用した故障検出が挙げられます。この手法は、時間をかけずに高い検出精度を実現します。具体的な手法としては、スキャンテストとBIST（内蔵自己テスト）が一般的です。
